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Titel: Feature-Family-Based Reliability Analysis of Software Product Lines
VerfasserIn: Lanna, Andre
Castro, Thiago
Alves, Vander
Rodrigues, Genaina
Schobbens, Pierre-Yves
Apel, Sven
Sprache: Englisch
Titel: SPLC '19: Proceedings of the 23rd International Systems and Software Product Line Conference - Volume A
Verlag/Plattform: ACM
Erscheinungsjahr: 2019
DDC-Sachgruppe: 004 Informatik
Dokumenttyp: Konferenzbeitrag (in einem Konferenzband / InProceedings erschienener Beitrag)
DOI der Erstveröffentlichung: 10.1145/3336294.3342376
Link zu diesem Datensatz: urn:nbn:de:bsz:291--ds-470963
hdl:20.500.11880/41229
http://dx.doi.org/10.22028/D291-47096
ISBN: 978-1-4503-7138-4
Datum des Eintrags: 25-Feb-2026
Fakultät: MI - Fakultät für Mathematik und Informatik
Fachrichtung: MI - Informatik
Professur: MI - Prof. Dr. Sven Apel
Sammlung:SciDok - Der Wissenschaftsserver der Universität des Saarlandes

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