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doi:10.22028/D291-29265 | Titel: | Introduction to the Proceedings of CISCEM 2018 - the 4th Conference on In-Situ and Correlative Electron Microscopy |
| VerfasserIn: | de Jonge, Niels Mølhave, Kristian Alloyeau, Damien |
| Sprache: | Englisch |
| Titel: | Microscopy and Microanalysis |
| Bandnummer: | 25 |
| Heft: | S1 |
| Startseite: | 1 |
| Endseite: | 2 |
| Verlag/Plattform: | Cambridge University Press |
| Erscheinungsjahr: | 2019 |
| Dokumenttyp: | Journalartikel / Zeitschriftenartikel |
| DOI der Erstveröffentlichung: | 10.1017/S1431927618015763 |
| Link zu diesem Datensatz: | hdl:20.500.11880/28140 http://dx.doi.org/10.22028/D291-29265 |
| ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
| Datum des Eintrags: | 21-Okt-2019 |
| Fakultät: | NT - Naturwissenschaftlich- Technische Fakultät |
| Fachrichtung: | NT - Physik |
| Professur: | NT - Keiner Professur zugeordnet |
| Sammlung: | SciDok - Der Wissenschaftsserver der Universität des Saarlandes |
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