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doi:10.22028/D291-24809 | Titel: | Quantitative spectrochemical analysis of Na3AIF6, ZrSiO4 and InSb with the analytical electron microscope (TEM & SEM) |
| VerfasserIn: | Krajewski, Thomas |
| Sonstige beteiligte Körperschaft: | INM Leibniz-Institut für Neue Materialien |
| Sprache: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 2007 |
| Quelle: | Jahresbericht ... / Leibniz-Institut für Neue Materialien = Annual report ... / Leibniz Institute for New Materials. - 2006 (2007), S. 86-90 |
| Kontrollierte Schlagwörter: | Analytische Elektronenmikroskopie |
| DDC-Sachgruppe: | 530 Physik |
| Dokumenttyp: | Journalartikel / Zeitschriftenartikel |
| Link zu diesem Datensatz: | urn:nbn:de:bsz:291-scidok-34647 hdl:20.500.11880/24865 http://dx.doi.org/10.22028/D291-24809 |
| Datum des Eintrags: | 7-Apr-2011 |
| Fakultät: | SE - Sonstige Einrichtungen |
| Fachrichtung: | SE - INM Leibniz-Institut für Neue Materialien |
| Sammlung: | INM SciDok - Der Wissenschaftsserver der Universität des Saarlandes |
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