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doi:10.22028/D291-24796 | Titel: | Kelvin probe force microscopy of charged indentation-induced dislocation structures in KBr |
| VerfasserIn: | Egberts, Philip Bennewitz, Roland |
| Sonstige beteiligte Körperschaft: | INM Leibniz-Institut für Neue Materialien |
| Sprache: | Englisch |
| Erscheinungsjahr: | 2009 |
| Quelle: | Jahresbericht ... / Leibniz-Institut für Neue Materialien = Annual report ... / Leibniz Institute for New Materials. - 2008 (2009), S. 33-37 |
| Kontrollierte Schlagwörter: | Versetzung <Kristallographie> Mikroskopie |
| DDC-Sachgruppe: | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Dokumenttyp: | Journalartikel / Zeitschriftenartikel |
| Link zu diesem Datensatz: | urn:nbn:de:bsz:291-scidok-34490 hdl:20.500.11880/24852 http://dx.doi.org/10.22028/D291-24796 |
| Datum des Eintrags: | 23-Mär-2011 |
| Fakultät: | SE - Sonstige Einrichtungen |
| Fachrichtung: | SE - INM Leibniz-Institut für Neue Materialien |
| Sammlung: | INM SciDok - Der Wissenschaftsserver der Universität des Saarlandes |
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